泰思肯MAGNA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

發(fā)布時(shí)間：2024-04-08

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產(chǎn)品特點(diǎn)：MAGNA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

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泰思肯MAGNA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡的詳細(xì)資料：

產(chǎn)品簡介：

TESCAN MAGNA是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。MAGNA配置 Triglav™ 型 SEM 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品，以及在半導(dǎo)體光敏樣品等。

產(chǎn)品特點(diǎn)

*的實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™)功能，可設(shè)置優(yōu)化束斑尺寸和束流強(qiáng)度。
*的TriBE^TM和TriSE^TMIn-Beam探測器系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)更*進(jìn)的納米尺度表征。
TESCAN Essence™便利的電鏡操作軟件。
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、Raman聯(lián)用。

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